雖然與MCA類似，但Chiaro的渦輪分子壓力和速度是有所不同的

雖然與MCA類似，但Chiaro的渦輪分子壓力和速度是有所不同的。 配置可安裝的光學顯微鏡，以便在等離子處理期間觀察樣品，并在液體/氣體樣品中檢測是否存在泄漏現象。 在低真空處理等離子可增加等離子的活性。 為了檢測TEM桿中氣體和液體樣品是否存在泄露現象，Chiaro具備了檢漏功能，不僅在安裝時可觀察氣體/液體的電子晶片，還可測試表面的親水度并處理等離子。

Key Features

• 無需組裝
• 以40倍的光學顯微鏡觀察TEM樣品桿裝載在可回轉開的腔室蓋中
• 在高真空下儲存3個TEM樣品桿
• 在<2e-5 Torr時對可能存在的氣體/液體泄漏進行壓力監測
• 將疏水表面變為親水表面的等離子處理
• 等離子清洗樣品備制前后的TEM樣品桿
• 3位撥動開關（通氣、開啟、關閉）
• 觸摸屏操作
• 在短短幾分鐘內實現多個SEM之間的切換，以便進行原位清洗
• 專門針對聚合物/有機樣品的還原性氣體混合物
• 可移動小推車，配置等離子體驅動氣瓶