HR-SPM:高分辨原子力顯微鏡使用調頻模式空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率現有的掃描探針顯微鏡(scanningprobemicroscopes)和原子力顯微鏡(atomicforcemicroscopes)通常使用調幅模式(amplitudemodulation)

HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡

使用調頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一

在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率

現有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調頻模式(frequency modulation) 可以達到更高的分辨率。

SPM：掃描探針顯微鏡

AFM：原子力顯微鏡

AM：調幅模式

FM：調頻模式

與現有SPM/AFM的區別

液體環境中原子分辨率觀察

NaCl飽和溶液中觀察固體表面的原子排列。使用調幅模式的傳統原子力顯微鏡，圖像被噪音遮蓋（左圖），但在調頻模式下，原子排列清晰可見（右圖）。調頻模式實現了真正的原子級分辨率。

空氣中Pt催化劑顆粒的觀察1)

TiO2基底上的Pt顆粒， 通過KPFM進行表面電勢的測定，TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰識別。同時可以觀察到數納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色區域是正電勢，藍色區域是負電勢。對于PKFM觀察，FM模式也大幅提高了分辨率。