ZMP-960晶體出現率分析儀是工作原理是通過專用高分辨率 CCD 線性傳感器和顯微光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸到計算機中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結合智能的背景分離的顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數，并通過顯示器和打印機輸出。

一、結構原理

ZMP-960晶體出現率分析儀工作原理是通過專用高分辨率CCD線性傳感器和顯微光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸到計算機中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結合智能的背景分離的顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數，并通過顯示器和打印機輸出。

該儀器具有超大測量范圍及高分辨率，同時具有直觀、可視、準確、操作簡單、測量參數全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的新型顆粒分析儀器。

二、產品介紹

ZMP-960晶體出現率分析儀可以直接對透明貼劑中析出的晶體進行掃描，按照規定掃描范圍進行掃描一定的面積，將其中的晶體識別出來并做數量統計。軟件可以內置公式得出晶體出現率。

三、性能指標

1.測量范圍：1μm ～ 100mm

2.圖像分辨率：900萬像素

3.光學平臺：100mm * 120mm

4 背景光源：反射光