工作原理：
1，試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住，形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔，試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流，使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)；
2，可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件，將其隔離出來單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比，溫變變化沖擊速率更快；
外形尺寸:
W(寬)790mm*H(高)1600mm*D(深)1080mm
溫馨提示：外部尺寸請(qǐng)依設(shè)計(jì)確認(rèn)三視圖為準(zhǔn)！
工作模式:
A）2路主空氣管輸出，由分布頭分為8路供氣，帶2套1拖8 系統(tǒng)
B) 2種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode
測(cè)試和循環(huán)于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫）
制冷方式:采用風(fēng)冷式HFC環(huán)保制冷劑復(fù)疊系統(tǒng)，溫度可達(dá)-70℃
試品:
帶2套1拖8 系統(tǒng)，金屬封裝PCB板模塊8片；
前端空氣經(jīng)干燥過濾器處理,產(chǎn)品測(cè)試區(qū)及附近無明顯結(jié)露現(xiàn)象。設(shè)備可以連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)不需進(jìn)行除霜。
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
1．GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
2．GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
3．GB/T2423.22-2012 試驗(yàn)N: 溫度變化試驗(yàn)方法
4. GJB/150.3-2009 高溫試驗(yàn)
5. GJB/150.4-2009 低溫試驗(yàn)
6. GJB/150.5-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
