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返回產品中心>透射密度計TBX2000The TBX1000™ 透射密度計測量ISO視覺漫反射光學密度 (OD) 至6.60D. 較寬的測量范圍允許對多種類型的材質如薄膜，層壓板和基板進行評估.該設備帶有一個2.00D的校準標準但有一個可選的校準標準值需要購買。TBX1500還可以測量正點和負點區域；TBX2000測量不透明度百分比和透射度。數據可以通過USB端口（配件需另外采購）上傳電子表格。TBX™可以顯示所有函數的存儲參考值的偏差。
特點：
軟鍵菜單操作非常適合測量金屬薄膜的光學密度。
規格： 光學設計……………………………………………………………….............ANSI PH2.19 顯示…………………………………………………………………………………..LCD屏幕（128x64像素） 光圈…………………………………………………………………………………..1，2，3毫米 桿長……………………………………………………………………………………7.5英寸 輸出接口……………………………………………………………………………USB 電源輸入……………………………………………………………………………12V輸入110/220適配器 測量范圍……………………………………………………………………………0-6.00D 準確度……………………………………………………………………………….0.02D 精度……………………………………………………………………………………0.01D 預熱時間…………………………………………………………………………….無 選項： 型號 PART# 功能 TBX1000 FD343-10(USA);FF343-10 (Intl.) 密度；密度差 TBX1500 FD343-15 (USA); FF343-15 (Intl.) 密度；密度差；正負點距離 TBX2000 FD343-20 (USA); FF343-20 (Intl.) 密度；密度差；%密度；%透明度
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