儀器簡介：
 ModuLab XM MTS(材料電特性測試系統)是模塊化的，整合的研究系統，可用來測試從絕緣體到超導體的大部分材料的電學性質。此測試系統即提供時域技術，如恒定電流，通過脈沖電壓和掃描電壓(I-V)確定材料的電學性能；又提供AC技術如阻抗、電容、C-V或者Mott-Schottky來提供更多細節信息進一步分析材料的導電機理；并且儀器提供一系列可選模塊，擴展了測試范圍，如高電壓、樣品/參比、功率放大器和低電流測試；高/低溫系統及樣品架配件更提高了其測試能力。系統有兩種尺寸配置，滿足不同預算，可以配合您的研究，為您量身定做，適應和拓展您的研究深度和廣度。
●   時域技術包括I-V，恒定DC，脈沖電位以及電位掃描。
●   AC技術包括阻抗，電容，介電常數，電氣模型，C-V以及Mott-Schottky。
●   高性能“即插即用”模塊，可選模塊擴展了測試范圍—高電壓、樣品/參比、功率放大器和低電流測試。
●   高/低溫系統及樣品架配件包括低溫系統、高溫爐等。
 
應用領域：
ModuLab XM MTS系統設計的目的是檢驗由絕緣體至超導體的幾乎任何類型的材料，包括:納米材料；半導體；光伏；陶瓷；聚合物；顯示材料；鐵電/壓電材料；介電材料；生物材料；超導體。該材料可以是固體，液體或粉末，可使用加熱到>1600℃高溫爐或冷卻到接近零度的低溫系統。使用時間域，阻抗和溫度測試大多數材料均可獲得性能表征。 對于如何用Solartron的系統測試這些材料可以在Solartron的網站上檢索得到應用案例：/stacksofapps/
 
陶瓷
陶瓷經常用于高溫及絕緣領域，特別是航天渦輪扇葉、宇宙飛船的材料片、引擎噴嘴、傳感器、盤狀剎車等。MTS系統的高電壓、高溫和低電流模塊的提供了陶瓷材料的測試環境。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • 外部超高電壓放大器（10kV） • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFAfA選項 • 高溫爐

聚合物
MTS系統可用于測量聚合物的電性能，如電纜絕緣材料、顯示屏基質材料、半導體低K介電材料、導電聚合物、塑料涂層等。 阻抗測試廣泛應用于聚合物介電特性的測試。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA fA選項 • MFRA交流性能測試 • 低溫系統用于玻璃化試驗

納米材料
新型納米材料參雜于現有的陶瓷、聚合物等材料中，制造出具有優異的機械、電氣及熱特性的復合材料。MTS系統的多功能性及模塊性結構是測試這些新型材料電性能的之選。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • 低溫系統 • MFRA交流性能測試

太陽能電池
太陽能電池以其來源于太陽的以及廉價的特點成為傳統燃料的替代。MTS系統集成I-V特性（評估功率/轉換效率）及阻抗/C-V特性（確定載流子密度和遷移率）測量為一體，簡化了測試程序，降低了投入成本。
MTS多種選項：• 時域和交流測試 • MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • MBST 2A大電流選項 • MFRA交流性能測試

超導體
超導體是指在一個臨界溫度以下具有零電阻的材料，它們廣泛用于電磁體、如MRI、NMI與質譜儀；MTS系統的超低阻抗測試特點和精確的溫控附件是測量超導材料的必選。 既能精確控制溫度，又能測量超低阻抗，是對這類材料測試的要求。
MTS多種選項：• MBST 2A大電流選項用于     低阻抗測試 • 低溫系統 • MFRA交流性能測試

顯示材料
新型顯示技術，如OLED及AMOLED,為手提電腦、手機及薄屏電視提供了更大的發展潛力。MTS系統為該類產品提供了多種測試方法，如脈沖（顯示保持/Flicker測試）、I-V.C-V及阻抗測試。
MTS多種選項：• MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA    fA選項 • MFRA交流性能測試

半導體
半導體材料的電阻率因隨周圍的電場變化而變化，被廣泛應用于PC、整流器、太陽能電池、放大器等。MTS系統的AC與時域測量功能包括I-V、C-V、溫度控制及寬泛的電壓、電流范圍為研究者提供了極大的方便。
MTS多種選項：• I – V，C – V，Mott-Schottky • MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA fA選項 • MBST 2A大電流選項 • 低溫系統 • MFRA交流性能測試

介電材料
鐵電材料（常用于電子應用， 如PC內存）、壓電材料、陶瓷、聚合物、油品、玻璃以及粘土都屬于介電材料（絕緣體）。MTS系統的高電壓、杰出的電流分辨率及高精度非常適用于測量此類介電材料的電性能。
MTS多種選項：• I – V，阻抗 • MHV100V高電壓 • MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • 高溫爐或低溫系統 • MFRA交流性能測試

生物材料
利用時域及AC測量技術，MTS系統可用于各種生物材料、成活、植入材料、血液、病毒或組織細胞以及藥物在體內傳輸的測量。 雖然不能直接和生物活體相連接，但是廣泛應用于體外測試。
MTS多種選項：• MREF采樣/參比模式 • 超微電流測量之MFA     fA選項 • 低溫系統 • MFRA交流性能測試
 
詳細資料 ：
ModuLab  XM MTS(材料電特性測試系統)是模塊化的，整合的研究系統，可用來測試從絕緣體到超導體的大部分材料的電學性質。
系統提供：
時域技術包括I-V，恒定DC，脈沖電位以及電位掃描。
AC技術包括阻抗，電容，介電常數，電氣模型，C-V以及Mott-Schottky。
可選模塊擴展了測試范圍—高電壓、樣品/參比、功率放大器和低電流測試。
高/低溫系統及樣品架配件包括低溫系統、高溫爐等等
很多測試系統都可以測試材料的電學性質。典型的系統分析可以分為兩類：要么提供時域技術，如恒定電流，通過脈沖電壓和掃描電壓(I-V)確定材料的電學性能；要么提供AC技術如阻抗、電容、C-V或者Mott-Schottky來提供更多細節信息進一步分析材料的導電機理。許多情況下，根據被測材料的類型，通常需要多個供應商提供多種設備，包括放大器、功率放大器、控溫測試設備(低溫系統或高溫爐)，敏感的電流放大器等。
ModuLab XM MTS將上述所有的功能整合于一個模塊系統中，從而提供了的方法進行材料測試。核心MAT模塊提供了高速時域測試功能，系統中還可以加入可選模塊，例如加入頻響分析模塊提供阻抗/C-V測試能力，加入模擬放大器提供高電位/低電流測試，加入控溫附件則可以實現溫度的控制。這種模塊化方法對于用戶有如下優點：
啟動成本低－您可以先購買MAT核心組件以及主機箱，當資金允許時再購買可選附件。
節約成本－為本系統購買的模塊以及附件適用于所有的測試技術。電流以及高電位放大器服務于時域測試和AC測試，所有測試均可實現溫度控制。
易于操作－同樣的系統軟件用在所有測試中，減少了學習時間，增加了熟悉度。
系統維修－當系統的某一模塊無法正常工作時，系統的其他組件不會受到影響，當該模塊取出維修時，其他組件能繼續正常工作。
系統有兩種尺寸配置，滿足不同預算，可以配合您的研究，為您量身定做，適應和拓展您的研究深度和廣度。
 
Modulab XM MTS軟件是全面、靈活、易于操作。該系統有多種測試類型可供選擇，從標準開路電壓、I-V、C-V和Mott Schottky測試到復雜的多步序列測試，包括樣品制備、的實驗技術以及綜合阻抗分析。
在實驗進行的所有階段都用到了圖表，以便用戶精確理解自己的樣品需要進行什么樣的測試。一旦軟件中輸入參數，軟件中的波形圖將給出樣品運行時，該實驗所需要的實際時間及實驗的設置值。
軟件還給出了接線圖，以方便用戶檢查樣品是否正確連接，并在開始測試之前給出調整。
軟件提供了多種數據采集模式可供用戶自由選擇而不受所選實驗類型的限制。例如當運行電壓脈沖實驗時，就會選擇高數據采樣率，以便分析脈沖(電壓和電流)的實際形狀，以選擇測試點。
為了使用戶能夠分別實現序列AC、DC、溫度和阻抗測試，軟件提供大量的循環測試設定方法，方便使用。
導航式樹狀結構
可供瀏覽的導航式樹狀結構讓使用者可設定及顯示設定模板、試驗、參數、圖形與報告。針對特定的一個樣品或一組樣品，多個項目可以成組，成為序列實驗并歸檔。
集成DC/阻抗
實驗可能包含單一或多個步驟順序。DC時域及AC阻抗步驟整合在一起，能進行如恒定電壓I-V、C-V、Mott-Schottky和電壓脈沖的序列實驗。軟件甚至允許在AC模式下操作單波掃描、諧波分析及多波FFT功能，同時完成。
數據分析
數據模擬之例行程序整合到ModuLab軟件中，包括線、圓、等效電路模擬。等效電路模型，可使用一系列的元件包括：電阻、電容、電感、分布參數元件，常相位元件，擴散元件。有些廣泛使用的模型在軟件中己預先設定，其它模型則可用圖表等效電路模型編輯器很輕松地建立，這可建立在許多材料應用中非常復雜的阻抗模型。
數據報告模板
內置數據報告模板格式將采取實驗結果、并與圖表、曲線圖及分析結果一起輸出到文字處理器。構建報告簡單易行。