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M215190掃描電子顯微鏡供應采用不同的信息檢測器,使選擇檢測得以實現。如對二次電子、背散射電子的采集,可得到有關物質微觀形貌的信息;對x射線的采集,可得到物質化學成分的信息。正因如此,根據不同需求,可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。
M215190掃描電子顯微鏡供應技術參數
1.高真空模式:3.0nm 低真空模式:4.0nm
2.低真空度1 to 270Pa,高、低真空切換
3.樣品臺X:80mm Y:40mm T:-10 to +90degree R:360degree
4.加速電壓0.5kV to 30Kv束流1pA—1uA
5.真空系統馬達驅動臺能譜分析接口
M215190掃描電子顯微鏡供應主要特點
1.既保證高電壓下的高分辨率,也可提供低電壓下高質量的圖像。
2.全自動電子槍
3.高靈敏度半導體背散射探頭
4.超級圓錐形物鏡,高精度的變焦聚光鏡系統
5.大樣品室,全對中的樣品臺,大視野觀察范圍可觀測到2厘米見方的樣品
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