JPK提供模塊化的測(cè)力型光鑷和光勢(shì)阱捕獲平臺(tái)，廣泛應(yīng)用于從單分子到活細(xì)胞的應(yīng)用研究

操控與測(cè)力一體化 NanoTracker^TM 2納米光鑷的特點(diǎn)：

1）飛牛（Femto-Newton）級(jí)別敏感度與亞納米精度的3D力學(xué)測(cè)量

2）的穩(wěn)定性與的噪聲水平、確測(cè)量的

3）同時(shí)熒光成像

4）強(qiáng)有力而靈活的控制與數(shù)據(jù)分析軟件

5）Class 1 激光安全保證

6）靈活、模塊化的設(shè)計(jì)適應(yīng)于從單分子到活細(xì)胞的大尺度范圍

nanoTracker TM 2 技術(shù)規(guī)格

系統(tǒng)概覽

• 從單個(gè)分子到整個(gè)細(xì)胞測(cè)量，系統(tǒng)提供光阱捕獲和追蹤粒子的柔性平臺(tái)
• 與倒置光學(xué)顯微鏡耦合進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，兼容：

         -Zeiss Axiovert 200和 Axio Observer

         -TE 2000和Eclipse Ti

         -IX70/71/73

•  兼容所有主流光學(xué)顯微鏡技術(shù)，諸如DIC和熒光
• 光譜范圍：400-900nm
• 優(yōu)化的的光學(xué)部件：激光波長(zhǎng)為1064 nm
• 自動(dòng)校準(zhǔn)功能，有利于增強(qiáng)效率
• 自動(dòng)控制所有主要部件
• 安全等級(jí)激光,無(wú)需手工對(duì)準(zhǔn)
• 可外接標(biāo)準(zhǔn)模塊，如共聚焦單元、CCD照相機(jī)和探測(cè)器等

NanoTracker™2頭部

• 封閉式頭部設(shè)計(jì)避免激光泄漏以及空氣傳播噪聲
• 液體安全性高，無(wú)漂移設(shè)計(jì)可進(jìn)行高穩(wěn)定性測(cè)量
• 可選高精度閉環(huán)控制的壓電樣品臺(tái)，行程為：100μmx100μmx10μm 自動(dòng)精密樣品臺(tái)：20mmx20mm
• 高能量油鏡或低球差水鏡--高級(jí)光阱應(yīng)用
• 四個(gè)靈敏InGaAs光電探測(cè)器，3.5MHz帶寬（16bit采樣）
• 無(wú)耦合的XY和Z檢測(cè)，優(yōu)化了Z軸敏感度
• 通過(guò)軟件控制的精確聚焦

NanoTracker™2樣品載具選項(xiàng)

• 可以使用標(biāo)準(zhǔn)載玻片，蓋玻片或者培養(yǎng)皿
• 多通道層流液體池 LFC™ 一個(gè)基于蓋玻片的液體池，帶有為單分子實(shí)驗(yàn)設(shè) 計(jì)的層流灌注能力。
• 為活細(xì)胞研究所設(shè)計(jì)的培養(yǎng)皿溫控器（環(huán)境溫度到60攝氏度范圍）帶有灌注和氣流（CO2）.可以使用Wilco，BD，Corning的玻璃底培養(yǎng)皿

NanoTracker™2激光單元

• 超穩(wěn)定激光（1064nm波長(zhǎng)）
• <0.5% 強(qiáng)度穩(wěn)定性
• 3W/5W激光
• 1級(jí)的激光認(rèn)證

NanoTracker™控制單元

• 在整個(gè)視野范圍內(nèi)的真正三維快速持續(xù)光束控制
• 一束或者兩束光線帶有可調(diào)能量分配
• 一束激光通過(guò)高級(jí)壓電轉(zhuǎn)鏡或者AOD進(jìn)行XY控制，快速線性驅(qū)動(dòng)進(jìn)行Z控制。
• 微秒的控制單元響應(yīng)時(shí)間

NanoTracker™2控制器

• 水平的控制器，具有的噪聲水平
• 60MHz帶寬，16bit XY和Z軸探測(cè)
• 信號(hào)通路模塊（SAM）帶有多于20路輸入輸出通道
• 電平通道和電源可應(yīng)用于外部設(shè)備
• 高速以太網(wǎng)和智能接地提供的帶寬和性能

NanoTracker™2軟件

• 基于Java構(gòu)筑的用戶界面提供直覺(jué)式的儀器控制
• Point and Trap™鼠標(biāo)操縱的光束控制
• 自動(dòng)力/位移校準(zhǔn)
• DirectOverlay™提供精確的光阱捕獲和樣品位置匹配
• 內(nèi)建支持EM-CCD的相機(jī)控制
• 高級(jí)示波器功能和在線距離切面測(cè)量及其他
• 強(qiáng)有力的力譜工具，帶有新的RampDesigner™，提供高級(jí)force clamp或force ramp功能
• JPK的ExperimentPlanner™提供易于使用的可編程實(shí)驗(yàn)控制
• 高級(jí)和高速的批量力曲線分析功能，包括 WLC，FJC和臺(tái)階擬合算法在內(nèi)的大量擬合模型
• 環(huán)境控制附件通過(guò)軟件操縱
• 為高級(jí)實(shí)驗(yàn)應(yīng)用提供可編程的軟件
• 用戶可定義的快捷鍵

靈活多樣的附件

• 單光束/雙光束配置
• 探測(cè)單元：為單光束或雙光束配置
• AOD選件：應(yīng)用于快速光束控制和優(yōu)化光阱復(fù)用
• 閉環(huán)壓電樣品臺(tái)
• 軸向光阱控制，獨(dú)立的捕獲聚焦和顯微鏡聚焦
• 不同輸出功率的激光
• 不同選擇的顯微鏡物鏡：倍率，浸入媒介，TIRF
• 磁鑷

工作模式

• 三維顆粒跟蹤
• 簡(jiǎn)易的定點(diǎn)指向trap
• 在線校正
• 高級(jí)力譜模式，包換力鉗和RampDesinger編程
• 力圖譜成像
• 微流控
• 光學(xué)篩選
• Trap振蕩
• 3D光阱陣列
• 線形或圓形光阱排列
• 微流量控制
• 納米聚合
• 光學(xué)Z方向分片

應(yīng)用領(lǐng)域

單分子和生物聚合物

• 分子內(nèi)彈性和蛋白質(zhì)折疊動(dòng)力學(xué)
• 馬達(dá)蛋白追蹤
• DNA/RNA力學(xué)
• 蛋白質(zhì)-DNA結(jié)合
• 納米孔和三維聚合物網(wǎng)絡(luò)探測(cè)

細(xì)胞生物學(xué)應(yīng)用

• 膜組織（例如脂筏）
• 跨膜運(yùn)輸
• 細(xì)胞內(nèi)作用力
• 受體-配體實(shí)驗(yàn)
• 細(xì)胞力學(xué)和細(xì)胞運(yùn)動(dòng)
• 膜系鏈動(dòng)力學(xué)
• 細(xì)胞和凝膠的微流變
• 細(xì)胞和凝膠的微流變

細(xì)胞-顆粒相互作用與感染研究

• 追蹤病原菌-寄主之間的相互作用和逃逸力
• 細(xì)菌和病毒黏附力
• 局部基因或者藥物輸送
• 進(jìn)入機(jī)制研究
• 納米毒理學(xué)和內(nèi)吞研究

其他高級(jí)研究

• 復(fù)雜光阱幾何學(xué)
• 光學(xué)導(dǎo)引和人工晶體構(gòu)筑
• 局域增強(qiáng)和Raman/SERS應(yīng)用
• 布朗運(yùn)動(dòng)追蹤，光激發(fā)力顯微鏡（PFM）
• 膠體和聚合物網(wǎng)絡(luò)的力學(xué)研究
• 視頻顆粒追蹤和光譜

光學(xué)顯微鏡模式

• 透射亮場(chǎng)照明（標(biāo)準(zhǔn)）
• 透射DIC（標(biāo)準(zhǔn)）
• 熒光顯微鏡（標(biāo)準(zhǔn)）
• 拉曼光譜
• TIRF顯微鏡
• 共聚焦顯微鏡
• FRET顯微鏡及其他更多