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掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100

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掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100技術(shù)指標(biāo):

 
SPM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
XY向分辨率：0.4nm（輕敲模式）；0.3nm（AFM模式）；0.1nm（STM模式）
Ｚ向分辨率：0.05nm（輕敲模式）；0.03nm（AFM模式）；001nm（STM模式）
XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)（選配）
電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購）

掃描探針顯微鏡NanoFirst-3100特點(diǎn)

計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計(jì)。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域．
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。


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