用于半導體元器件高溫存儲試驗可靠加熱技術
用于半導體元器件高溫存儲試驗可靠加熱技術。
特點
測試空間容積為30L,70L,135L,429L,624L,非標定制等
采用微電腦電子數位控制方式,精密準確,穩定可靠。
PID控制系統,雙重超溫保護,安全可靠
溫度設定簡易,操作方便。
性能(為空載時,其室溫在25℃)
溫度范圍:RT+10~200℃(250℃,300℃可選)
設計和技術參數(HTS系列) | |||||||||
型號 | LS-HTS-30 | LS-HTS-70 | LS-HTS-135 | LS-HTS-225 | LS-HTS-429 | LS-TS-624 | 可非標定制 | ||
箱體設計 | |||||||||
試驗箱內容積(升) | 31 | 72 | 136 | 225 | 429 | 624 | 按客戶要求尺寸 | ||
試驗箱內箱容積尺寸 (mm) | 寬(W) | 300 | 400 | 450 | 500 | 600 | 800 | ||
高(H) | 300 | 400 | 550 | 600 | 550 | 600 | |||
深(T) | 350 | 450 | 550 | 750 | 1300 | 130 | |||
試驗箱外箱尺寸 (mm) | 寬(W) | 530 | 590 | 650 | 830 | 930 | 1130 | ||
高(H) | 530 | 610 | 760 | 860 | 810 | 860 | |||
深(T) | 770 | 840 | 94 | 123 | 1780 | 1780 | |||
溫度試驗參數 | |||||||||
升溫速率(平均) | ℃/min | 5 | |||||||
溫度波動度 | ℃ | ±5 | |||||||
溫度均勻度 | ℃ | 2% | |||||||
溫度偏差 | ℃ | ±3 | |||||||
供電和連接 | |||||||||
額定電壓 | V | 3/N/PE AC 380V ±10% 50Hz | |||||||
此樣本提供的產品概述僅供參考,既不是相關的建議和推薦也不是任何合同的一部分。由于本公司的產品會不斷更新,因此我們保留對技術指標變更的權利,恕不另行通知,謝謝合作。 | |||||||||
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