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高溫存儲試驗

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用于半導體元器件高溫存儲試驗可靠加熱技術

詳細信息 在線詢價

用于半導體元器件高溫存儲試驗可靠加熱技術。
特點
測試空間容積為30L,70L,135L,429L,624L,非標定制等
采用微電腦電子數位控制方式,精密準確,穩定可靠。
PID控制系統,雙重超溫保護,安全可靠

溫度設定簡易,操作方便

性能(為空載時,其室溫在25℃)

溫度范圍:RT+10~200(250℃,300℃可選)


設計和技術參數(HTS系列)
型號 LS-HTS-30 LS-HTS-70 LS-HTS-135 LS-HTS-225 LS-HTS-429 LS-TS-624 可非標定制
箱體設計
試驗箱內容積(升) 31 72 136 225 429 624 按客戶要求尺寸
試驗箱內箱容積尺寸
(mm)
寬(W) 300 400 450 500 600 800
高(H) 300 400 550 600 550 600
深(T) 350 450 550 750 1300 130
試驗箱外箱尺寸
(mm)
寬(W) 530 590 650 830 930 1130
高(H) 530 610 760 860 810 860
深(T) 770 840 94 123 1780 1780
溫度試驗參數
升溫速率(平均) ℃/min 5
溫度波動度 ±5
溫度均勻度 2%
溫度偏差 ±3
供電和連接
額定電壓 V 3/N/PE AC 380V ±10% 50Hz
此樣本提供的產品概述僅供參考,既不是相關的建議和推薦也不是任何合同的一部分。由于本公司的產品會不斷更新,因此我們保留對技術指標變更的權利,恕不另行通知,謝謝合作。




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