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Keithley 2400/2420/2440數(shù)字源表

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海欣崇電子科技有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào)
  • 所在地 上海市
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2024/11/5 15:00:50
  • 訪問(wèn)次數(shù) 46

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Keithley2400/2420/2440數(shù)字源表主要特性:集5臺(tái)儀器的功能于一體(IV源、IVR測(cè)量)6種模式:20W~100W直流、1000W脈沖、1100V至1V、10A至10pA源和阱(4象限)工作0

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Keithley 2400/2420/2440數(shù)字源表

主要特性

  • 集5臺(tái)儀器的功能于一體(IV源、IVR 測(cè)量)
  • 6種模式:20W~100W直流、1000W脈沖、1100V至1μV、10A至10pA
  • 源和阱(4象限)工作
  • 0.012%基礎(chǔ)測(cè)量精度(6位半分辨率)
  • 2線、4線和6線遠(yuǎn)程電壓源和測(cè)量感測(cè)
  • 1700讀數(shù)/秒(4位半分辨率),通過(guò)GPIB
  • 通過(guò)/失效比較器用于快速排序/分選
  • 提供高速感測(cè)線接觸檢查功能
  • 可編程DIO端口用于自動(dòng)化/處理程序/探針控制
  • 標(biāo)準(zhǔn)SCPI GPIB、RS232和吉時(shí)利觸發(fā)鏈路接口
  • 吉時(shí)利LabTracer 2.0版I-V曲線跟蹤應(yīng)用軟件(下載)

典型應(yīng)用

設(shè)備:

  • 分立半導(dǎo)體器件
  • 無(wú)源器件
  • 瞬變抑制器件
  • IC、RFIC、MMIC
  • 激光二極管、激光二極管模塊、LED、光檢測(cè)器
  • 電路保護(hù)器件:TVS、MOV、保險(xiǎn)絲等
  • 氣袋
  • 連接器、開(kāi)關(guān)、繼電器


測(cè)試:

  • 漏電
  • 低電壓/電阻
  • LIV
  • IDDQ
  • I-V特性分析
  • 隔離和印制線電阻
  • 溫度系數(shù)
  • 正向電壓、反向擊穿、漏電流
  • 直流參數(shù)測(cè)試
  • 直流電源
  • HIPOT
  • 絕緣耐壓測(cè)試序列舉例


緊湊集成儀器的優(yōu)點(diǎn)
通過(guò)在單臺(tái)裝置中連接源和測(cè)量電路, 這些儀器能提供多種優(yōu)于單獨(dú)的源和測(cè)量?jī)x器構(gòu)建的系統(tǒng)。 例如,它們極大地縮短了測(cè)試站開(kāi)發(fā), 建立和維護(hù)所需的時(shí)間, 同時(shí)降低了購(gòu)買(mǎi)系統(tǒng)的整體成本。 通過(guò)去除與使用多臺(tái)儀器相關(guān)的復(fù)雜同步和連接問(wèn)題, 它們簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程本身。而且,緊湊的半機(jī)架尺寸節(jié)省了測(cè)試架或測(cè)試臺(tái)的寶貴“空間”。


集5種儀器功能于一體(IV源、IVR測(cè)量)
源測(cè)量?jī)x器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如,它具有更短的測(cè)試時(shí)間,通過(guò)減少GPIB的流量并簡(jiǎn)化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過(guò)載、熱失控等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測(cè)量完整性。如果回讀達(dá)到可編程容限的極限,那么該源就被鉗位在此極限,從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。

I-V特性分析
所有數(shù)字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象,作為電源向負(fù)載輸出功率。工作在第2和第4象,作為阱(負(fù)載)吸收能量。在源或阱工作期間都能測(cè)量電壓、電流和電阻 。


自動(dòng)化以提高速度
吉時(shí)利數(shù)字源表提高了生產(chǎn)測(cè)試的效率。它能在提供電壓源或電流源的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量,無(wú)需更改連接,因此適合于在不間斷生產(chǎn)環(huán)境中可靠地工作。為了提供生產(chǎn)應(yīng)用所需的吞吐率要求,數(shù)字源表具有許多內(nèi)建功能因而能運(yùn)行復(fù)雜的測(cè)試序列,無(wú)需速度較低的計(jì)算機(jī)控制或GPIB通信。


標(biāo)準(zhǔn)掃描和定制掃描
掃描方案采用自動(dòng)化鉤子(hook)極大加快了測(cè)試。三種基本掃描波形可設(shè)置為單事件或連續(xù)工作,因而非常適于I/V、I/R、V/L和V/R特性分析。

-線性階梯掃描:從起始電平到終止電平使用相等的線性步長(zhǎng)
-對(duì)數(shù)階梯掃描:按照每十個(gè)單位的步數(shù)按對(duì)數(shù)量比例進(jìn)行掃描
-定制掃描:通過(guò)測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的輸出電平,支持設(shè)立專用掃描
-達(dá)1700讀數(shù)/秒(4位半分辨率),至GPIB總線
-5000個(gè)6位半分辨率的讀數(shù)可以存儲(chǔ)在非易失緩沖存儲(chǔ)器中


內(nèi)建測(cè)試定序儀(源存儲(chǔ)器列表)
源存儲(chǔ)器列表提供了更快捷、更方便的測(cè)試,您能設(shè)置和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測(cè)試并能實(shí)現(xiàn)無(wú)PC干預(yù)的運(yùn)行。
-存儲(chǔ)多達(dá)100種儀器配置,每種均包含源設(shè)置、測(cè)量設(shè)置、通過(guò)/失效標(biāo)準(zhǔn)等。
-通過(guò)/失效極限測(cè)試速度達(dá)500μs/測(cè)試點(diǎn)
-板上比較器消除了當(dāng)發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析時(shí)產(chǎn)生的延遲
-內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算推導(dǎo)參數(shù)

數(shù)字I/O接口
數(shù)字I/O接口能將數(shù)字源表連接至許多流行的組件處理程序,包括Aetrium、Aeco和Robotronics。此接口的其它功能包括:
· 緊湊的系統(tǒng)集成用于分選和排序等應(yīng)用
· 內(nèi)建組件處理程序接口
· 測(cè)試開(kāi)始和測(cè)試結(jié)束信號(hào)
· 5V、300mA電源
· 可選擴(kuò)展器附件(2499-DIGIO型)增加16條數(shù)字I/O線


觸發(fā)鏈路接口
全部數(shù)字源表都包含吉時(shí)利專有的觸發(fā)鏈路接口,能與許多吉時(shí)利許多其它儀器建立高速、無(wú)縫的通信。例如,使用觸發(fā)鏈路接口連接數(shù)字源表和7000系列開(kāi)關(guān)系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測(cè)試方案。在獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和GPIB的高速測(cè)試序列過(guò)程中,通過(guò)觸發(fā)鏈路,7000系列開(kāi)關(guān)系統(tǒng)可被數(shù)字源表控制。


可選接觸檢查功能
在自動(dòng)測(cè)試序列開(kāi)始之前,接觸檢查功能可以快捷、容易地驗(yàn)證是否連接良好。這消除了由于接觸疲勞、破損、玷污、松動(dòng)或連接中斷、繼電器故障等產(chǎn)生的測(cè)量誤差和不真實(shí)的產(chǎn)品缺陷。此功能的一些性能如下:
· 350μs驗(yàn)證和通知處理時(shí)間
· 數(shù)字源表的輸出在出錯(cuò)之后自動(dòng)關(guān)閉并且直至確認(rèn)接觸良好后再激活,進(jìn)而保護(hù)被測(cè)器件不被損壞并保護(hù)控制器不受潛在的安全性威脅。
· 3個(gè)通過(guò)/失效閾值:2Ω、15Ω和50Ω
· 在工作過(guò)程中,沒(méi)有能量通過(guò)被測(cè)器件
· 從前面板使能或遠(yuǎn)程通過(guò)GPIB使能
· 3種故障通知方法

的6線電阻測(cè)量方法
數(shù)字源表能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)4線、分裂Kelvin以及6線、帶防護(hù)的電阻測(cè)量并且能配置為恒流或恒壓方法。6線測(cè)量方法:
· 除了4線感測(cè)和源測(cè)試線之外,還使用防護(hù)和防護(hù)感測(cè)線。
· 鎖定并行電流路徑,當(dāng)測(cè)量電阻排或混合電路隔離被測(cè)元件時(shí)
· 允許用戶用2400系列源表簡(jiǎn)捷地配置和繪制數(shù)據(jù),從而能輕易實(shí)現(xiàn)兩臺(tái)、三臺(tái)和四臺(tái)終端器件的特性分析



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