DereoHR高分辨率便攜式平板探測器Xris(X-rayImagingSolutionsCO.,LDT)比利時X射線數字圖像公司是歐洲的工業射線數字檢測方案的,是比利時發展的50家高科技企業之一,推出的GemX(寶石)系列便攜式射線機、Gxc移動式射線機、Dereo(迪瑞歐)射線數字成像系統(DR)
Dereo HR高分辨率便攜式平板探測器 Xris (X-ray Imaging Solutions CO.,LDT) 比利時X射線數字圖像公司是歐洲的工業射線數字檢測方案的,是比利時發展的50家高科技企業之一,推出的GemX(寶石)系列便攜式射線機、Gxc移動式射線機、Dereo(迪瑞歐)射線數字成像系統(DR)。 產品為世界主流的工業無損檢測探傷產品,針對航空航天、工、運輸設備、機械制造、壓力容器、電力、石油化工、能源、安檢安監、防爆安保和考古科研領域都有專業的射線檢測技術方案和配置。 Dereo(迪瑞歐)系列產品: 高分辨率小型探測器:HR0510;HR1010; 100μm高分辨率探測器:UP2530;UP3643; 高能多用途平板探測器:HE2530;HE4040; 在線式高能平板探測器:RAD2530,RAD4040。 Dereo HR高分辨率便攜式平板探測器 適用于航空&航天(NADCAP認證)、石化、機械和電力等的金屬材料、非金屬材料和復合材料的缺陷檢測 主要參數: 探測器類別:CMOS 射線耐壓:0-200kV 像素尺寸:48μm/96μm 灰度等級(A/D):14 bits 成像面積:50*100毫米/100*100毫米/100*150毫米 外形尺寸:W127.5×H80×T25.5毫米 W143.5×H107×T25.5毫米 整機重量:0.6公斤/0.9公斤 軟件:Xris Maestro V5.1.0 交流電源或自帶電池作業(持續工作6~8小時) 特點: (1)能達到Class B成像等級,滿足NADCAP認證要求; (2)符合國內外NDT標準ISO17636,ASTM-E2698,E2736,E2737,E2597…; (3)高信噪比,高空間分辨率和精度。 (4)軟件界面友好,功能強大,為專業的無損檢測軟件,適用范圍廣泛; (4)體積小,厚度薄,重量輕,結構小巧,方便布置。
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