Effecttek易泛特晶圓厚度測量儀技術規格:型號ETM-1200外觀尺寸760*500*500mmX、Y測量行程200*200mmZ軸可調行程1
技術規格:
型 號 | ETM-1200 |
外觀尺寸 | 760*500*500mm |
X、Y測量行程 | 200*200mm |
Z軸可調行程 | 1.6-100mm |
有效測量范圍 | 160*160mm |
掃描最小步距 | 1μm |
光斑直徑 | 18~30μm |
橫向分辨率 | 9~15μm |
軸向分辨率 | 30nm |
檢測重復精度 | 0.1μm |
與表面角度 | 90°±2° |
測量厚度范圍 | 10~2900μm |
適應材質 | Si(硅)、Doped-Si(涂層硅)、Sic(碳化硅)、Sapphire(藍寶石)、GaAs(砷化鎵)、Glass(玻璃)、GaN(氮化鎵) |
測量原理 | 紅外光干涉 |
電 源 | AC220V±10% |
重 量 | 300kg |
噪 音 | Noise 70db |
運行系統 | Operational system Win10 |
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