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Effecttek易泛特晶圓厚度測量儀

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Effecttek易泛特晶圓厚度測量儀技術規格:型號ETM-1200外觀尺寸760*500*500mmX、Y測量行程200*200mmZ軸可調行程1

詳細信息 在線詢價

Effecttek易泛特晶圓厚度測量儀


技術規格:


型     號


ETM-1200


外觀尺寸


760*500*500mm


X、Y測量行程


200*200mm


Z軸可調行程 


1.6-100mm


有效測量范圍


160*160mm


掃描最小步距


1μm


光斑直徑


18~30μm


橫向分辨率


9~15μm


軸向分辨率


30nm


檢測重復精度


0.1μm


與表面角度


90°±2°


測量厚度范圍


10~2900μm


適應材質


Si(硅)、Doped-Si(涂層硅)、Sic(碳化硅)、Sapphire(藍寶石)、GaAs(砷化鎵)、Glass(玻璃)、GaN(氮化鎵)


測量原理


紅外光干涉


電     源



AC220V±10%


     


300kg


     


Noise 70db


運行系統


Operational system Win10



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