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PDP真空紫外熒光光譜測試系統(tǒng)

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測量PDP熒光粉在147.0nm、172nm真空紫外輻照激發(fā)下的發(fā)光光譜功率分布、譜線帶寬、峰值波長、發(fā)光亮度、色品坐標(biāo)、顏色純度和主波長等參數(shù);測量PDP熒光粉的發(fā)光余輝波形曲線、有效余輝時(shí)間,以及熒光粉在VUV輻…

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功能:測量PDP熒光粉在147.0nm、172nm真空紫外輻照激發(fā)下的發(fā)光光譜功率分布、譜線帶寬、峰值波長、發(fā)光亮度、色品坐標(biāo)、顏色純度和主波長等參數(shù);測量PDP熒光粉的發(fā)光余輝波形曲線、有效余輝時(shí)間,以及熒光粉在VUV輻照下的光衰特性。
性能指標(biāo):
◆ 快速、簡便地測試PDP熒光粉的亮度、色度、余輝等光學(xué)參數(shù)
◆ 可分別測量147nm和172nm單一譜線激發(fā)下的發(fā)光性能分析PDP的放電與熒光粉匹配參數(shù)
◆ 激發(fā)光源:模擬PDP像元發(fā)光特性的真空紫外放電管
◆ 光譜范圍:350nm~800nm(或200nm~800nm)
◆ 余輝時(shí)間:0.1ms~1s
◆ 余輝分辨率:0.1ms(可擴(kuò)展至1μs)


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