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Chroma 58601 燒機測試系統

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Chroma 58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU,溫度控制與可符合不同光電半導體。可供發光二極體,雷射半導體...

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Chroma 58601 燒機測試系統


燒機-可靠度&老化測試


Chroma 58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU,溫度控制與可符合不同光電半導體。可供發光二極體,雷射半導體,光電偵測器與其他半導體使用。 每個模組可測試80組獨立SMU,可提供待測物電流與偏壓并量測之。


電流源


每片獨立的電流電壓卡SMU可提供五種不同的電流等級,由5Amp 到20 與40Amp. 獨立的電壓量測可供高串聯數的待測物測試于高電壓等級. 多組的電流源也可藉由并聯形式提高電流的輸出能力。


高彈性化設計


Chroma 使Conversion Kit由半導體轉換到光電半導體使用。應用Conversion Kit于58601燒機測試可以擁有以下的優點:
* 高密度通道
* 高電流輸出
* 光電流監控
* 監控量測光電半導體
* 暗電流量測
* 提供偏壓
* 獨立電壓量測
* Bypass of Failing Devices
* 符合各種雷射光電半導體


高效率運作


* 提供高溫控制,降低老化時間與較少的通道,同時可降低成本,提供快速結果
* 高密度設計降低使用空間,優于其他設計

* 通過制造商進行批量測試,Carriers可用于燒機測試與特性測試,軟體可主動追蹤資料于燒機與特性測試
* 在利用Change kit 的設計,在相同基礎設備下可快速切換供不同種待測物使用,待測物降低成本
* 精細的probing 方式可提供次系統與高單價包裝待測物
* 熱插拔電源模組降低故障機率于MTBF/MTTR測試

Chroma 58601 燒機測試系統


主要特點:

* 適用于燒機與老化測試
* 最多達800通道同時測試
* 達40 安培電流輸出
* 達150度 溫度控制
* 操作員利用Carrier放置待測物
* Change Kit 設計供測試種類不同待測物

Chroma 58601 燒機測試系統


型號 描述

58601 光電激光半導體燒機測試系統


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