XD6型多晶X射線衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)，測(cè)角儀掃描半徑可在150～285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。該功能使得用戶可以在儀器測(cè)角分辨率和測(cè)試衍射線強(qiáng)度之間進(jìn)行均衡選擇，自行設(shè)定需要的試驗(yàn)條件，滿足不同情況試驗(yàn)需求。為了提高實(shí)驗(yàn)效率，XD6提高了快速轉(zhuǎn)動(dòng)速度，達(dá)到1800°/min。

　　儀器簡(jiǎn)介：

XD6型多晶X射線衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)，測(cè)角儀掃描半徑可在150～285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。該功能使得用戶可以在儀器測(cè)角分辨率和測(cè)試衍射線強(qiáng)度之間進(jìn)行均衡選擇，自行設(shè)定需要的試驗(yàn)條件，滿足不同情況試驗(yàn)需求。為了提高實(shí)驗(yàn)效率，XD6提高了快速轉(zhuǎn)動(dòng)速度，達(dá)到1800°/min。

　主要特點(diǎn)：

結(jié)構(gòu)新，采用先進(jìn)的立式測(cè)角儀結(jié)構(gòu)，更加方便的樣品放置方式，對(duì)于操作、維護(hù)的工作力度大為簡(jiǎn)化，更加直觀的使用，便于清理實(shí)驗(yàn)后的樣品臺(tái)。

采用細(xì)分驅(qū)動(dòng)電源技術(shù)，精度高，重現(xiàn)性達(dá)到0.0005°、測(cè)量重復(fù)性0.001°、zui小步進(jìn)角度0.0001°,掃描半徑連續(xù)可調(diào)；

進(jìn)口NaI閃爍晶體計(jì)數(shù)探測(cè)器，分辨率及長(zhǎng)期使用穩(wěn)定性好；

X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護(hù)性更好；采用了轉(zhuǎn)輪式快門，開(kāi)關(guān)速度更快，故障率更低，射線阻斷性更好，機(jī)柜外輻射劑量低于0.2μSv/h（國(guó)標(biāo)規(guī)定要求低于2.5μSv/h）；

X射線光源的數(shù)字控制電路作了進(jìn)一步的改善，X光機(jī)的工作功率*由計(jì)算機(jī)遙控設(shè)定。高壓與管流的加載過(guò)程受微電腦控制自動(dòng)操作，使用更加簡(jiǎn)單，運(yùn)行更加可靠；

中文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數(shù)據(jù)處理軟件包。在數(shù)據(jù)輸出多樣性方面作了重大改進(jìn)。