應用范圍：
?測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成.測量范圍從22(Ti)到92(U).
?5 層(4 鍍層+ 基材) / 15 元素/ 共存元素校正
?組成成分分析時可同時測定15種元素
?測試方法全面符合ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
X射線熒光測厚儀X-Strata960
應用范圍：
•測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成.測量范圍從22（Ti）到92（U）.
•5 層（4 鍍層+ 基材） / 15 元素/ 共存元素校正
•組成成分分析時可同時測定15種元素
•測試方法全面符合ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
儀器特點：
•50 Watt 微聚焦X光管：提高計數率, 改善測試精度, 75 W升級
•多準直器系統：提高了應用能力
•鐳射聚焦：更高的重現性
•標準配置FP 軟件包：復雜樣品應用模式，更容易建立標準曲線
•開槽式樣品臺設計：3種樣品臺，更適合樣品裝載
•7種語言可用：用戶界面; 英文, 中文, 日文, 韓文, 法文,德文,西班牙文
技術參數：
•X射線激發系統：50 W （50kV /1mA） 微聚焦W陽極管
•探測器：充Xe封氣正比計數器,帶二次濾光片
•Digital Pulse Processing：4096 CH 數字多道分析裝置. 自動信號處理,包括死時間校正和消除脈沖積累
•計算機：Pentium 4, 2.8 GHz, 40 GbHD, 256Mb RAM with MicrosoftTMXP
•電源：85~130 或215~265 伏特, 47Hz 到63Hz
•工作環境：50°F （10°C）到104°F （40°C） ,98% RH, 不凝固
•工作臺行程（XYZ 程控）：6” X 7” x 1.9” （15.2cm X 17.8cm X 4.8cm）
