當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測試儀器及設(shè)備>測厚儀>X射線熒光測厚儀>iEDX-150μT X射線鍍層厚度測試儀 iEDX-150μT
返回產(chǎn)品中心>iEDX-150μT X射線鍍層厚度測試儀 iEDX-150μT
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 廣州鴻熙電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 iEDX-150μT
- 所在地 廣州市
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2019/10/22 15:53:12
- 訪問次數(shù) 597
當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測試儀器及設(shè)備>測厚儀>X射線熒光測厚儀>iEDX-150μT X射線鍍層厚度測試儀 iEDX-150μT
返回產(chǎn)品中心>參考價 | 面議 |
X射線鍍層厚度測試儀 iEDX-150μT,iEDX-150μT 鍍層測厚儀能精確穩(wěn)定高速無接觸測量帶鋼表面鋅層和其它金屬層的厚度(重量).系統(tǒng)具有的特點和功能能使用戶準(zhǔn)確控制所生產(chǎn)的鍍層厚度, iEDX-150μT系統(tǒng)廣泛并成功地應(yīng)用于世界多個國家和地區(qū). 它的功能比如較快的采樣頻率,大的檢測距離,售后服務(wù)和技術(shù)支持遍布多個國家,是工業(yè)領(lǐng)域鍍層重量檢測技術(shù)的先鋒。
產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:X射線鍍層厚度測試儀
型 號:iEDX-150μT
生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司
X射線鍍層厚度測試儀 iEDX-150μT
工作條件 | |
●工作溫度:15-30℃ | ●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度:<70%,無結(jié)露 | ●功率:200W + 550W |
三、系統(tǒng)描述及主要技術(shù)數(shù)據(jù)
iEDX-150μT 鍍層測厚儀能精確穩(wěn)定高速無接觸測量帶鋼表面鋅層和其它金屬層的厚度(重量).系統(tǒng)具有的特點和功能能使用戶準(zhǔn)確控制所生產(chǎn)的鍍層厚度, iEDX-150μT系統(tǒng)廣泛并成功地應(yīng)用于世界多個國家和地區(qū). 它的功能比如快的采樣頻率,大的檢測距離,售后服務(wù)和技術(shù)支持遍布多個國家,是工業(yè)領(lǐng)域鍍層重量檢測技術(shù)的先鋒.整個設(shè)備均免維護.適用于鍍鋅,鍍鋁鋅,鋅鋁合金,鍍鉻,鍍錫等生產(chǎn)線,檢測鍍層厚度(單面)0-350克/平方米。
(一)模塊介紹
1.1檢測單元
使用的硅漂移SDD探測器,*的電子制冷技術(shù),保證測量的精確性和穩(wěn)定性,確保帶鋼鋅層厚度(重量)精確控制。
射線源是利用50千伏高壓產(chǎn)生X射線,射線源可以在10~50千伏自由調(diào)整,保證用合適的激發(fā)電壓檢測鋅層的厚度。
1.2檢測應(yīng)用程序
監(jiān)測系統(tǒng)的控制和管理,運用工業(yè)領(lǐng)域里的多核因特爾處理器計算機,能保證工業(yè)領(lǐng)域里快的響應(yīng),使用WINDOWS 7操作系統(tǒng)為使用者提供了容易理解、容易操作和便于維護的系統(tǒng)。
1.3 校準(zhǔn)模塊
多片復(fù)合式校準(zhǔn)模塊,在做校準(zhǔn)時測試頭移動到校準(zhǔn)模塊檢測面上完成校準(zhǔn),保證儀器測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
1.4 掃描模式
iEDX-150μT 鍍層厚度(重量)檢測系統(tǒng)具備幾種檢測模式,操作員通過電腦輕松選擇這些掃描模式,掃描模式通常有以下幾種:
A 單點模式
使探測器固定在帶鋼的任意位置掃描,這種檢測模式能測量帶鋼縱向某條直線的鋅層厚度, 在電腦上會實時顯示那個位置鍍層厚度。
B 連續(xù)掃描模式
傳感器沿帶鋼邊對邊橫向位置作連續(xù)掃描,每一次來回掃描,橫向剖面圖被計算出來,并以彩色顯示在電腦屏幕上,操作員會看見橫向整個寬度的鋅層厚度顯示。
C 三點檢測模式
測量頭在帶鋼的邊中邊3個位置連續(xù)行走檢測,弟一個測量位置在左邊距離帶鋼邊緣處檢測,第二個位置在帶鋼的中心位置檢測,第三個位置在右邊帶鋼處檢測,連續(xù)循環(huán)反復(fù)。
1.5 操作控制
測試系統(tǒng)的所有控制由操作電腦鼠標(biāo)和鍵盤來完成。現(xiàn)場計算機可以完成所有控制、操作、校準(zhǔn)等操作功能,控制室遠程計算機只完成結(jié)果顯示、操作測試、結(jié)果打印等功能。
電腦上顯示內(nèi)容:
※ 日期、時間、卷號、目標(biāo)厚度、正面厚度、背面厚度、平均厚度、耗鋅量、加鋅提示
※ 測試數(shù)據(jù)折線圖、趨勢圖顯示
※ 三點 頂部,左、中、右
※ 三點 底部,左、中、右
1.6 標(biāo)準(zhǔn)化
操作電腦系統(tǒng)完成標(biāo)準(zhǔn)化,在現(xiàn)場計算機中操作探測器自動移動到標(biāo)樣片上回零,消除漂移和傳感器表面贓物對檢測的影響。
1.7 (MIS) 信息管理(報表)
通過信息管理系統(tǒng), 報表自動產(chǎn)生,卷報表,班報表,日報表可存儲5年以上,也可以很方便地手動或自動打印出來.卷報表包括:日期 時間 鋼卷號 鋅層厚度 單卷耗鋅量 生產(chǎn)班組 檢驗員。
1.8 數(shù)字分辨率
檢測時顯示的數(shù)字分辨率為0.1克/平方米(g/m2)。
1.9 通訊方式
與上位機或2級系統(tǒng)通訊采用TCP/IP或 OPC (*使用OPC) 需終與買方確認。
(二)系統(tǒng)軟件特征
2.1高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2.2界面信息,可根據(jù)客戶實際需求做簡單調(diào)整
2.3計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)
2.4 Multi Ray. 運用基本參數(shù)法(FP)軟件,對樣品進行精確的鍍層厚度分析,可對鍍液進行定量分析。
2.5 MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng) [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
2.6 Multi-Ray 金屬行業(yè)精確定量分析軟件。可同時分析20種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
2.7 Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統(tǒng)
2.8完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
2.9自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
(三)設(shè)備技術(shù)規(guī)格書
3.1 檢測單元說明
50千伏 X射線管, 功率50瓦
探頭為美國高性能硅漂移SDD探測器,分辨率125±5eV
X高壓電源,美國Spellman(斯派曼)50瓦高壓電源
3.2 系統(tǒng)參數(shù)
測試結(jié)果實時顯示
漂移:0.1% (8小時)
標(biāo)準(zhǔn)化:每8小時一次(自動)*
鋅層厚度范圍:0.01~50um
檢測距離(從傳感器到帶鋼表面):10~20毫米
檢測范圍: 單面可達50um(350克)
3.3 精度(單面)
At: 50g/㎡ ±0.20 g/m2
At: 75g/㎡ ±0.20 g/m2
At: 100g/㎡ ±0.25 g/m2
At: 150g/㎡ ±0.45 g/m2
At: 200g/㎡ ±1.00 g/m2
重復(fù)性(單面): ±0.25%或±0.25g/㎡(取大者)
四、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
X射線鍍層厚度測試儀 iEDX-150μT
數(shù)量 | 型號/名稱 | 描 述 |
4.1 iEDX-150μT鍍鋅層檢測硬件系統(tǒng) | ||
1套 | 檢測模塊 | 儀器電源(2~3個開關(guān)電源,輸入220V)。 |
50瓦X射線高壓電源; | ||
50瓦X射線管; | ||
發(fā)射接收雙準(zhǔn)直器 | ||
多片復(fù)合式校準(zhǔn)模塊(3~5位) | ||
高精度硅漂移SDD探測器 | ||
檢測模塊控制電路板 | ||
1套 | 檢測模塊機械部分 | 完成檢測模塊機械結(jié)構(gòu),符合客戶要求點位分析; |
1臺 | 本地控制計算機 | 聯(lián)想計算機,完成測試軟件運行控制,顯示結(jié)果 |
20寸液晶顯示器;ASCII鍵盤和鼠標(biāo) | ||
Windows 7 專業(yè)版操作系統(tǒng); CD-ROM | ||
1臺 | 控制室遠程計算機 | 聯(lián)想計算機,顯示結(jié)果,打印 |
20寸液晶顯示器;ASCII鍵盤和鼠標(biāo) | ||
Windows 7 專業(yè)版操作系統(tǒng); CD-ROM | ||
A4 打印機 | ||
1套 | 附件: | 系統(tǒng)內(nèi)部連接電纜 |
1+1套 | 系統(tǒng)手冊 | 1套書面版、1套電子版本 |
4.2 軟件 | ||
1套 |
| 系統(tǒng)軟件: 標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)操作軟件(基于Windows) |
4.3 服務(wù) |
|
|
1套 | 指導(dǎo)安裝和調(diào)試 | 包括 |
1套 | 試車后現(xiàn)場培訓(xùn) | 包括 |
4.1 X射線管:高穩(wěn)定性X射線管,使用壽命(工作時間>18,000小時)
微焦點x射線管
鈹窗口, 光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供zuijia性能。
4.2 探測器:SDD探測器
能量分辨率:125±5eV
4.3濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
小光斑直徑:0.035mm(可調(diào))
4.4樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
4.5分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
4.6檢測厚度(正常指標(biāo)):
- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 ~ 1000 微英寸
- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 ~ 1200 微英寸
- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 ~ 3000 微英寸
- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 ~ 500 微英寸
4.7計算機、打印機(贈送)
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: