ELLIP-SR-Ⅰ型產品是集光機電于一體高精度高穩定橢圓偏振光譜儀。從儀器狀態調整、參數設置、數據采集一直到數據處理，均通過計算機自動完成，可工作于從紫外至近紅外的寬廣光譜區，波長連續可調，入射角度從20度到90度內手動可調。

高精度光譜橢偏儀 ELLIP-SR-Ⅰ型主要適用于科研院所的信息光電子功能薄膜、體材料的光學性質和結構特性研究，可被研究材料種類包括：金屬和合金、元素和化合物半導體、絕緣體、超導體、磁性和磁光材料、有機材料、太陽能薄膜、多層薄膜材料、液體材料等。在測量中，可按研究條件同時對入射角和波長進行自動精細掃描，從而增加研究的靈活性，便于用戶獲得更多的光譜信息進行數據分析，提高研究的質量和可靠性，并實現無接觸無損傷測量。該系列光譜儀的性能指標達均已達到同類技術的*水平，產品國內及海外市場。

高精度光譜橢偏儀 ELLIP-SR-Ⅰ型技術參數：

波長范圍：250-830nm，  250-1100nm，  250-1700nm ， 250-2100nm 。

光源：氙燈

波長分辨率：1.0nm

入射角范圍： 20-90度（每5度間隔）

樣品臺：Ø110 mm （可配三維樣品臺）

入射角精度：0.001度 

測量模式：反射式光譜值 

測量方式：自動完成AC信號測量

實測光學常數種類：復折射率（ n, k ）；

反射率R

膜厚精度：±0.1nm 

光學常數精度優于0.5％

橢偏參數精度：D±0.02度；Y±0.01度 

選配：*微光斑技術（國內*），高精度XY平臺，特制CCD成像系統。

主要特點

WINXP友好操作界面

實測光學常數種類：復折射率、復介電函數、吸收系數、反射率。

主要用途 

1.各種功能材料的光學常數測量和光譜學特性分析；

2.測量薄膜材料的折射率和厚度； 測量對象包括：金屬、半導體、超導體、

絕緣體、非晶體、超晶格、磁性材料、光電材料、非線性材料；測量光學常數：復折射率的實虛部、復介電常數的實虛部、吸收系數a、反射率R。

本信息來自鄭州沃邦儀器，如需幫助請致電*