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主要參數 | |
TEM 信息分辨率 | 0.18 nm |
TEM 點分辨率 | < 0.30 nm |
STEM 分辨率 | 0.20 nm |
HRTEM 信息分辨率 | 0.18 nm |
HRTEM 線分辨率 | 0.10 nm |
HRSTEM 分辨率 | 0.20nm |
EDS立體角(sr) | 0.18/0.80 |
的圖像
高襯度、高質量TEM和STEM成像,可同時進行多信號檢測,最多可使用四通道集成STEM探測器。
超穩定鏡筒和遠程操作與智能凸輪和恒功率物鏡的快速模式和HT開關。針對多用戶環境的快速、輕松切換
大的極靴分析間隙、180°臺傾斜范圍和大的z范圍允許您添加層析成像樣品桿、原位樣品桿等
所有日常的TEM校正,如焦點、優中心高度、中心光束偏移、中心聚光光闌和旋轉中心都是自動化的。
靈活的能譜分析揭示了化學信息。
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