產品參數(shù) TEM 線分辨率 ≤ 0.10 nm LACBED 會聚角 ≥ 100 mrad 衍射角 24° STEM 分辨率 ≤ 0.16 nm EDS 側插式,可伸縮 電子槍類型 場發(fā)射槍或高亮度場發(fā)射槍
樣品操作 Z 軸移動總行程 (標準樣品桿) ± 0.375 mm 三維重構樣品桿 α 傾轉角 (高視野樣品桿) ± 90° 樣品漂移 (標準樣品桿) ≤ 0.5 nm/min
關鍵優(yōu)勢 |
雙 EDS 技術可實現(xiàn)。從單 30 mm2 探頭到可實現(xiàn)高通量 (或低劑量)分析的雙 100 mm2 探頭,可根據(jù)您的需求 選擇的 EDS。 |
高質量 S/TEM 圖像和準確的 EDS。借助創(chuàng)新直觀的 Velox 軟件用戶界面,可通過極其簡單的操作方法,獲得 高質量 TEM 或 S/TEM 圖像。Velox 軟件內置的*的 EDS 吸收校準功能可實現(xiàn)確的定量分析。 |
的原位動態(tài)分析功能。可加裝三維重構或原位分析樣品桿、高速相機、智能軟件。 X-TWIN 大物鏡間距可實現(xiàn)三維成像和原位數(shù)據(jù)采集,同時限度避免分辨率和分析能力的損失。 |
提高生產效率。超穩(wěn)定鏡筒設計;借助 SmartCam 實現(xiàn)遠程操作;物鏡功率恒定,可實現(xiàn)快速電鏡模式和高壓切換;并可輕松、快速切換多用戶環(huán)境。 |
可重復性的可靠數(shù)據(jù)。所有日常 TEM 合軸,例如聚焦、中心高度調節(jié)、電子束偏轉、聚光鏡光闌對中、電子束傾斜樞軸點以及旋轉中心調整都是自動完成的,以確保用戶總是從成像條件開始。實驗可多次重復,因而用戶可以更多關注研究課題而不再糾結于電鏡操作。 |
快速大視場成像。大視場的 4k × 4k Ceta CMOS 相機可以在整個高壓范圍實現(xiàn)高靈敏度、高速實時數(shù)字變焦。 |
緊湊型設計。本設備具有更小的尺寸和占地面積,便于在更具挑戰(zhàn)性的較小空間內安裝,同時有助于維修和降低安裝和維護成本。 |
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