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WaveMaster® IOL 2人工晶體波前測量儀

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WaveMaster®IOL2是一款基于波前測量,可用于單焦、環曲面、球面、非球面人工晶體的檢測

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WaveMaster® IOL 2是一款基于波前測量,可用于單焦、環曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發,也可用于的生產,主要測量屈光度,像差以及基于波前分析計算的快速MTF測量。該設備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環境中測量,也可實現對環曲面人工晶體的MTF測量。
應用范圍
  • 人工晶體在空氣中和模擬眼中的波前檢測

  • 屈光度和散光度的檢測

  • 低階和高階像差(澤尼克分析)的檢測

  • 像質(MTF)檢測

  • 環形人工晶體的軸偏差及標識自動識別



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