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IMP-EPD 離子蝕刻探針-終點檢測儀

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IMP(Ions Milling Probe)離子蝕刻探針-終點檢測儀是自帶差式泵的耐用的二次離子質譜儀,*的專業檢測終點儀器。用于離子蝕刻控制以及優化工藝。適用于離子刻蝕過程中的二次離子和中性粒子分析。

詳細信息 在線詢價

離子蝕刻探針-終點檢測儀

應用:
· 終點檢測
· 靶的純度測定
· 質量控制/SPC
· 殘余氣體分析
離子蝕刻探針-終點檢測儀特點:
· 高靈敏度的SIMS/MS,帶脈沖離子計數檢測器
· 離子光學透鏡、能量分析器和離子源
· 真空規和安全互鎖裝置提供過壓保護
· 軟件MASsoft通過RS232、RS485或以太網控制
· 可編程的DDE,平行數字數據I/O,RS232腳本通訊

 

應用:
· 終點檢測
· 靶的純度測定
· 質量控制/SPC
· 殘余氣體分析
特點:
· 高靈敏度的SIMS/MS,帶脈沖離子計數檢測器
· 離子光學透鏡、能量分析器和離子源
· 真空規和安全互鎖裝置提供過壓保護
· 軟件MASsoft通過RS232、RS485或以太網控制
· 可編程的DDE,平行數字數據I/O,RS232腳本通訊


北京英格海德分析技術有限公司

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