功率

400 mA, 5V (dc)

測試頻率范圍

6.0 - 5.0 MHz

頻率分辨率

+/- 0.03 Hz @ 6 MHz

測量區間

0.10s

參考頻率穩定性

+/- 2 ppm

厚度和速率分辨率

+/- 0.037Å  基頻=6MHz

厚度顯示分辨率

1 Å  

尺寸

11.4 x 7.6 x 2.5 cm

重量

57g

操作系統

Windows 8, Windows 7, Windows Vista, Windows XP, 或Windows 2000

晶體探針架

• 探針長度：120mm
• 探針直徑：10mm
• 安裝有水冷夾層，保持探針的溫度低于150℃

軟件

包括STM-2軟件
 

可選石英晶體

• 含金石英晶體：用于測試金屬薄膜厚度
• 合金石英晶體：用于測量非金屬薄膜厚度

安裝

質保期

一年質保期，終身維護

應用

• 選擇合適的石英振蕩晶體，分為含金石英晶體和合金石英晶體
• 含金石英晶體，適用于大多種材料測試
• 合金石英晶體建議用于測試光學薄膜，介電薄膜或半導體膜等